Un microscope électronique ultrarapide et lumineux !
(b) Cartographie de l’intensité de l’émission de cathodoluminescence
(c) Cartographie de la durée de vie de l'émission de cathodoluminescence
(d) Signal de cathodoluminescence résolu en temps détecté aux emplacements représentés par les carrés rouge et bleu en (c). Les traits non bruités représentent l'ajustement des données pour la détermination de la durée de vie.
Relier les propriétés lumineuses et la structure d'un matériau à l'échelle du nanomètre donne accès à des informations précieuses pour le développement de dispositifs optoélectroniques. Des physiciennes et des physiciens du Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales du CNRS (CEMES), du Laboratoire de physique des solides (LPS - CNRS, Université Paris-Saclay) et de l'Institute of Atomic and Molecular Sciences de Taiwan ont pour la première fois mesuré en fonction du temps à l'échelle de la nanoseconde la lumière émise sous l'effet des électrons au sein d'un microscope électronique en transmission ultrarapide (UTEM). Publiés dans la revue Applied Physics Letters, ces travaux ouvrent la voie à une cartographie de la durée de l'émission de lumière avec une résolution spatio-temporelle inégalée. (...)